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掃描電子顯微鏡（SEM）是利用電子束與樣品表面相互作用，生成高分辨率圖像的顯微技術。其工作原理是電子槍發(fā)射的電子束經(jīng)聚焦后在試樣表面作光柵狀掃描，與試樣相互作用產生二次電子、背散射電子、特征 X 射線等信號。

掃描電子顯微鏡的應用領域：

材料科學

金屬材料：觀察晶粒尺寸、位錯、相變機制，分析斷裂模式及表面磨損。

陶瓷材料：分析顯微結構、晶相、氣孔分布及雜質含量。

高分子材料：研究老化、疲勞過程中的斷裂行為及表面形貌變化。

納米材料：測量顆粒尺寸、分布及團聚情況，揭示納米特性。

生物醫(yī)學

細胞與組織：觀察內質網(wǎng)、線粒體、細胞骨架等超微結構，研究細胞通訊、分裂等生命活動。

微生物：分析病毒、細菌、支原體等形態(tài)，輔助病原體鑒定。

生物材料：研究生物活性材料表面形貌及細胞生長情況。

半導體與電子器件

芯片制造：監(jiān)控半導體制造流程，檢測缺陷及失效分析。

電路板檢測：診斷故障，優(yōu)化電子器件性能。

地質學與礦物學

巖石與礦物：分析微觀結構、化學成分，評估孔隙度及裂紋情況。

礦物識別：通過表面形貌和紋理區(qū)分礦物種類。

考古學與文物分析

無損檢測：分析文物微觀結構及化學成分，輔助年代鑒定與材料研究。

環(huán)境科學

污染物分析：研究大氣顆粒物、水質微粒等形態(tài)及成分，分析污染來源。

納米技術與表面工程

納米材料特性：測量形態(tài)、尺寸，揭示獨特性質。